纳米粒度及Zeta电位仪:
纳米级别粉末材料的粒度分布及样品的Zeta电位测试
X射线荧光光谱仪（XRF）:
该仪器可用于测定未知样品中元素的组成，可进行定性和定量分析。测试元素范围：B(5)-U(92)。
6号-X射线衍射仪:
此台衍射仪可进行样品物相的定性和定量分析，点参测定、宏观残余应力、晶粒大小和精细结构分析等。该仪器为高功率衍射仪，立式测角仪，样品平放且测试过程中静止不动，所以可以测试粉末样品，块体样品及流态样品；可以测试单晶基片上的薄膜样品及强织构样品；该仪器配有标准样品台、多功能样品台等配置，除常规theta-2theta联动扫描测试，还可以进行摇摆曲线测试、极图测试、应力测试。
10#-高功率高能量分辨率多功能自动换样X射线衍:
该设备可以进行粉体、块体、薄膜等材料常规的X射线衍射分析。同时，仪器配备的最新的阵列探测器，能量分辨率可达380eV，不仅能提高测试速度，还具有很好的信噪比，对于测试含荧光元素的样品有着非常明显的优越性。此外，该仪器还配备了配备了90位自动换样台，既可以满足多种测试功能，还可以批量测试样品。该仪器为立式测角仪，样品平放，对于粉末样品不易脱落；可以进行小角衍射测试（2theta最小起始角可到0.6°）；除常规theta-2theta联动扫描测试，还可以进行掠入射测试。可以实现平行光路和聚焦光路的自由切换。
比表面积及孔径分布分析仪:
可分析多孔材料的比表面积，微孔、介孔的孔径分布。主要计算方法：BET,BJH,SF,HK,DFT。可同时分析两个微孔样品。
同步热分析仪（热重差热联用TG-DTA）:
该仪器能够同步测定材料在升温过程中的重量变化（TGA）和吸热、放热效应（DSC/DTA)。使用一个样品一次实验可以同时得到TG和DSC（DTA）两个信号。
1号-X射线衍射仪:
此台衍射仪可进行样品物相的定性和定量分析、宏观残余应力、晶粒大小分析和结晶度分析等。该仪器为高功率衍射仪，立式测角仪，样品平放，对于粉末样品不易脱落；左右测角仪可同时独立测试，使用效率高；可以进行小角衍射测试（2theta最小起始角可到0.6o）；左侧测角仪配有旋转样品台，可以减小大颗粒样品带来的角度、强度和线形的测量误差。
物理性能测试系统:
美国Quantum Design公司的PPMS（9T）是集成了热学、电学和磁学测量功能的综合系统。
（1）热学方面：能测量材料比热、热容量；能实现材料热导率、塞贝克系数、电阻率及热品质因子四种参数同时测量。
（2）电学方面：能测量材料电阻率、电流-电压曲线和临界电流；水平旋转杆能实现样品与磁场方向成不同角度时电学性能的测量。
（3）磁学方面：能测量材料磁矩、磁滞回线、磁矩-温度曲线、居里温度、磁扭矩等。
脉冲式射频辉光放电光谱仪:
1、检测样品元素组成
2、检测涂镀层/薄膜样品的元素深度分布
高灵敏度磁学测量系统:
美国Quantum Design公司的SQUID-VSM（MPMS3）是基于超导量子干涉器（SQUID）探测技术的高灵敏度磁学测量系统，磁学测量灵敏度达到国际先进水平。仪器能够进行交流磁学和直流磁学测量。直流磁学测量功能实现不同温度下的磁滞回线、磁化曲线的测量；还能够实现不同磁场下的MT曲线的测量，得到样品的居里温度等参量。交流磁学测量能够测量不同频率下交流磁化率等。仪器配备了超低场选件，可以实现真正意义的“零场冷却”，能够实现ZFC和FC曲线的测量。
激光拉曼光谱仪:
主要功能：
拉曼光谱、光致发光(PL)谱、透射拉曼光谱、拉曼光谱偏振性能、空间成像等及高低温测试分析，对材料进行分子结构分析、成分鉴别、应力研究以及各向异性研究等。
配置激光光源：325 nm, 473 nm, 532 nm, 633 nm, 785 nm五个波长；
配有2个探测器，光谱测试范围：CCD（200-1050nm），InGaAs（800-1650nm）；
高低温测试范围：液氮-197℃—600℃；
配有SWIFT高速数据采集模式，可实现Raman快速成像；
配有偏振附件，测试材料偏振性能；
配有液体样品池，可对液体，悬浊液进行拉曼测试。
振动样品磁强计:
LakeShore 8604型振动样品磁强计主要用于测量材料的磁学性能，如磁滞回线、初始磁化曲线、磁化数据时间函数以及变温磁性的测量等，从而得到材料的磁化率、饱和磁化强度、矫顽力、剩磁和居里温度等关键性能参数。此外还可以做FORCs测试，测量速率最快可到100个数据点/秒。
热膨胀相变仪（DIL）:
该仪器配备淬火模式、径向测量、α模式、压缩模式、拉-压模式
3号高分辨蔡司场发射扫描电子显微镜:
固体/粉末样品形貌观察，二次电子像，背散射像。能谱分析（元素范围：Be-U）
光谱综合分析系统:
光谱综合分析系统能够实现材料在可见和近红外波段（400nm~1650nm）的反射光谱和透射光谱的测量。仪器使用的光源为卤素灯连续光源，用户可根据需要选择全角度入射反射、定角度入射反射、全角度入射透射和定角度入射透射等多种测量模式。测试选区基于显微成像系统架构，同时配置空间选区光阑，支持检测区域的大小缩放、平移、旋转等五维调节样品，可实现微米量级样品的信号采集。全角度入射反射模式和全角度入射透射模式常用于光子晶体材料的研究，定角度入射反射模式和定角度入射透射模式常用于光栅样品衍射的研究。
高分辨高灵敏度表面分析系统:
高分辨高灵敏度表面分析系统是在传统电镜分析基础上，集成了聚焦离子束（FIB），拉曼光谱（Raman），飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS），电子背散射衍射（EBSD）和能谱（EDS）等配置，将形貌、能谱、光谱、质谱集成为一个系统，实现对样品进行多方位的综合表征。上述配置和附件既可以独立使用，也可以相互联合使用，能满足多种材料的表面测试分析及加工需求。例如，扫描电镜、能谱和电子背散射系统联用，可以原位得到样品指定区域的形貌、成份以及晶体取向、晶粒大小及相分布等信息；也可以将扫描电镜和拉曼光谱仪联用，可以进行形貌观察和相鉴定及相结构分析等。
三维原子探针:
1. 能够以原子级的分辨率给出材料内部的三维成分分布图像； 2. 通过重构原子在三维空间中分布，直观反映出材料内部可能存在各种纳米结构，是目前空间分辨率最高的分析手段。
1. 能够以原子级的分辨率给出材料内部的三维成分分布图像；
2. 通过重构原子在三维空间中分布，直观反映出材料内部可能存在各种纳米结构，是目前空间分辨率最高的分析手段。
（可采用电压模式和激光模式）
X射线光电子能谱仪:
对固体样品表面进行：
（1）元素化合价分析
（2）化学成分的定性分析
（3）化学成分的半定量分析
（4）化学成分的深度分布分析
2号蔡司场发射扫描电子显微镜:
固体/粉末样品形貌观察，二次电子像，背散射像。能谱分析（元素范围：Be-U）
比表面积及孔径分布分析仪:
可分析多孔材料的比表面积，微孔、介孔的孔径分布。主要计算方法：BET,BJH,SF,HK,DFT。可同时分析两个微孔样品。
比表面积及孔径分布分析仪:
可分析多孔材料的比表面积，微孔、介孔的孔径分布。主要计算方法：BET,BJH,SF,HK,DFT。可同时分析两个微孔样品。
纳米压痕仪:
纳米压痕仪G200可以通过压痕实现材料的硬度，弹性模量，接触刚度，蠕变应力指数，断裂韧性，贮存模量，损耗模量，阻尼等力学参数的测量，可以通过划痕实现材料的摩擦系数和临界载荷的测量。仪器加载装置按载荷量程分为高分辨率模块、常规模块和高载荷模块，可以按需选择。仪器配有不同形状压头（包括玻氏压头，维氏压头，立方角压头，圆柱形压头和平压头），可以按需选择。仪器软件中有专门针对薄膜的测试方法，可降低薄膜测试的基底效应影响。仪器配有高精度定位样品台，可以实现表面形貌扫描和接触刚度成像。
2100F场发射透射电子显微镜:
在成像功能基础上，结合电子衍射与能谱信息，可以得到相的形貌-结构-成分在纳米尺度一一对应的信息。
8号-X射线衍射仪:
该设备可以进行粉体、块体、薄膜等材料常规的X射线衍射分析。同时，仪器配备的最新的阵列探测器，能量分辨率可达380eV，不仅能提高测试速度，还具有很好的信噪比，对于测试含荧光元素的样品有着非常明显的优越性。此外，该仪器还配备了五轴马达驱动样品台，既可以满足多种测试功能，还可以批量测试样品。该仪器为立式测角仪，样品平放，对于粉末样品不易脱落；可以进行小角衍射测试（2theta最小起始角可到1°）；除常规theta-2theta联动扫描测试，还可以进行掠入射测试。可以实现平行光路和聚焦光路的自由切换。
比表面积及孔径分布分析仪:
可分析多孔材料的比表面积，微孔、介孔的孔径分布。主要计算方法：BET,BJH,SF,HK,DFT。可同时分析两个微孔样品。
比表面积及孔径分布分析仪:
可分析多孔材料的比表面积，微孔、介孔的孔径分布。其中比表面、介孔样品可同时分析四个。
2号-X射线衍射仪:
此台衍射仪可进行样品物相的定性和定量分析、宏观残余应力、晶粒大小和结晶度分析等。该仪器为高功率衍射仪，立式测角仪，样品平放，对于粉末样品不易脱落；左右测角仪可同时独立测试，使用效率高；可以进行小角衍射测试（2theta最小起始角可到0.6°）；左侧测角仪配有旋转样品台，可以减小大颗粒样品带来的角度、强度和线形的测量误差。
高真空镀膜仪:
可为扫描电镜不导电样品喷镀Pt膜或碳膜。
多功能扫描探针:
全国范围内，扫描探针显微镜的附加功能配备最全的设备之一，包含形貌功能，磁学，电学，力学，电化学等，其中的扫描电化学功能，是目前唯一对外开的实验室。
三维X射线显微镜:
蔡司X射线显微镜采用光学加几何两级放大成像架构，可实现大样品高分辨率成像。探测器采用闪烁体和光学物镜耦合技术可实现高衬度和增强的相位衬度成像。高端X射线显微镜技术拓展了高分辨率三维无损成像的研究界限，在科学探索和工业研究领域为多尺度、多模态、多维度成像提供了新的分析测试手段。
原位扫描俄歇探针:
PHI710扫描俄歇纳米探针具有肖特基式热场发射电子枪，工作电压范围0.1~25 kV，二次电子图像空间分辨率4 nm（@25 kV, 1 nA），俄歇电子成像空间分辨率8 nm（@20 kV, 1 nA），探测器为同轴式电子能量分析器，电子能量侦测范围30~2400eV，俄歇灵敏度（CuLMM）大于700 kcps（@10 kV, 10 nA），能量分辨率0.5%~0.1%连续可调。仪器配有离子溅射系统，可用于表面清洁、深度剖析及荷电中和。仪器还配有EBSD背散射衍射探测器系统，能够进行样品微区的晶体结构及成分分析。
9号-多功能X射线衍射仪:
该仪器主要用于外延薄膜材料的结构分析。最新的阵列探测器，能量分辨率可达380eV，不仅能提高测试速度，还具有很好的信噪比。该仪器配备第三分析晶体，可对样品进行多功能、高分辨率的测试分析。X射线光管式衍射仪，入射光路配有双晶单色器，可得到发散角很小的平行光束；测角仪角度精确度非常高；样品台具有X、Y、Z、Chi、Phi五个自由度。
3/4号-X射线衍射仪:
此台衍射仪可进行样品物相的定性和定量分析、宏观残余应力、晶粒大小和结晶度分析等。该仪器为高功率衍射仪，卧式测角仪，样品垂直放置，可以测试粉末及块体样品；左右测角仪可同时独立测试，使用效率高；可以测试单晶基片上的薄膜样品及强织构样品；右侧配有Kα1单色器，快速探测器和旋转样品台。Kα1单色器能除掉Kα2波长的X射线，很好地提高测试的分辨率；配置的快速探测器可大幅度提高测试强度；配备的旋转样品台，可以避免大颗粒样品带来的角度、强度和线形的测量误差。
JEOL日本电子场发射扫描电镜:
固体/粉末样品形貌观察，二次电子像，背散射像。能谱分析（元素范围：Be-U）
7号-X射线衍射仪:
此台衍射仪可进行样品物相的定性和定量分析，点参测定、宏观残余应力、晶粒大小和精细结构分析等。该衍射仪为X射线光管式衍射仪，立式测角仪，样品平放，对于粉末样品不易脱落；此测角仪角度精确度很高，可以达0.003°。除常规theta-2theta联动扫描测试，还可以进行掠入射测试。
动态热机械分析仪（DMA）:
测定粘弹性材料在周期性载荷作用下的动态力学性能（储能模量、损耗模量和阻尼）随温度、频率及应变的变化。能够测定玻璃化转变，次级转变等参数。
0号-X射线衍射仪:
此台衍射仪可进行样品物相的定性和定量分析，点参测定、宏观残余应力、晶粒大小和精细结构分析等。该仪器为X射线光管式衍射仪，立式测角仪，样品平放且测试过程中静止不动，所以可以测试粉末样品，薄片样品；该仪器配有自动换样器，可连续测试最多32个样品；可以实现平行光路和聚焦光路的自由切换。
1号蔡司场发射扫描电子显微镜:
固体/粉末样品形貌观察，二次电子像，背散射像。能谱分析（元素范围：Be-U）
热重分析仪、差示扫描量热仪（TGA、DSC）:
TGA：测定材料在升温过程中的重量变化，用于测定材料的热稳定性，组成分析等。
DSC：测定材料在升降温过程中的吸热或放热转变。适用于测定玻璃化转变，熔融，结晶，固化等转变。
电子探针（EPMA）:
该仪器可用于样品中微区元素的定性、定量分析。可测试元素的范围为B-U。波谱仪配备四通道、八块晶体（包含测试轻元素的两块晶体），可进行图像观察、元素定性、定量、线扫描、面扫描等测试。测试灵敏度、分辨率、准确度等指标都高于通常的能谱仪。
热重分析仪（TGA-Discovery）:
测定材料在升温过程中的重量变化，用于测定材料的热稳定性，组成分析等。
热重分析仪（TGA 55）:
测定材料在升温过程中的重量变化，用于测定材料的热稳定性，组成分析等。
热分析联用系统（TG-DTA、TG-MS-FTIR、FTIR）:
该仪器用于测定材料在升温过程中的重量变化（TGA）和吸放热效应（DSC/DTA），并能够通过与质谱仪和红外光谱仪联用测定样品在升温过程中逸出气体的成分（定性分析）。热分析仪和红外光谱仪可独立使用。红外光谱仪为真空型，并且还可以拓展到远红外波段（650-50cm-1）。
氧氮氢测试仪:
检测金属样品中微量O/N/H的含量，以及扩散氢的含量，测试TDS曲线。