扫描探针显微镜:
扫描探针显微镜
测试图像稳定,可靠,精细;技术数据严谨。
低温探针台:
目前国际和国内上利用该仪器的主要研究方向集中在:1)铁电薄膜材料的极化-电场曲线测试。2)薄膜材料的基本电学性质表征,包括电阻率测量等。
离子束刻蚀机:
离子束刻蚀机配置高性能的离子源,可在不同离子能量条件下,获取相对较大束流能力、较大束流平度、较小束散角和较高束流稳定度,采用抗热变形平面双Mo栅自对准安装式离子光学系统,配置专用六组合高可靠性、高稳定性离子源电源,具备适应离子源动态负载变化的优良特性,离子源工作参数调整采用5旋钮电控方法可快速完成操作过程。离子源采用插装式源体结构、快速插接式主阴极组件、源体内装浸没式中和器和源体非直接水冷式结构,具有结构稳定性高和良好的重复一致性。
噪声分析仪:
能用软盘调入和储存超噪比数据;
通过极限线和标记功能提高分析能力;
加强了PC机和打印机的连通性,并提供VGA输出;
内部数据存储能储存多达30个不同的状态,迹线和设置文件;
4MHz的测量带宽;
频率列表工作方式,使用户能回避在测量期间的一些已知无用频率点,或用来巧妙地提高测量速度。
扫描探针显微镜:
控制器反馈响应时间<2微秒,数据采样率>50MHz,采集像素点>5120*5120;整机噪声水平RMS<0.3A(垂直方向),横向分辨率0.2nm(XY方向);光学系统物镜倍数>10倍,工作距离>50mm,分辨率>1.6微米,垂直方向移动范围>400mm;具有形貌扫描(AFM)、磁力分析(MFM)、电性能分析(EFM、CAFM)等功能。
光电子能谱仪及主腔:
固体材料表面微小区域内局域电子结构的探测。
激光分子束外延:
利用该设备可以实时监控薄膜的生长,精确控制复杂氧化物的生长,得到高质量的氧化物薄膜。
液氦自循环系统:
可以大大减少液氦的消耗量,制冷效率可以满足输运平台的测量。
原子力显微镜:
目前国际和国内上利用该仪器的主要研究方向集中在:1)铁电薄膜的电场诱发的结构相变;2)铁电畴的设计和相应的压电效应;3)超薄铁电薄膜的隧穿效应;4)铁电畴壁的导电性等。
网络分析仪:
N5230C是Agilent公司面向研发和生产推出的一款PNA-L系列网络分析仪,它以适中的价格提供强大的功能,可以用于无线通信器件、设备的研发和制造。
脉冲激光溅射沉积系统:
主要由溅射真空室、旋转靶台、抗氧化基片加热台、工作气路、抽气系统、安装机台、真空测量及电控系统等部分组成。广泛应用于大专院校、科研院所进行薄膜材料的科研与小批量制备。
角分辨光电子能谱仪:
固体单晶材料内部电子结构的直接探测,样品最低温可以达到3.5K.
高灵敏度磁测量系统:
1.利用SQUID探测直流磁化率,灵敏度可达10-8emu
2. 振动样品磁化率测量系统(Reciprocating Sample Measurement System)使用SQUID探测器+VSM原理,使直流信号灵敏度可达10-9emu
3. 温度范围 为1.9K—400K,加高温炉后温度可达800K
4. 最高磁场7特斯拉
5.交流磁场范围2 x 10-4 – 5 高斯,频率范围0.01Hz—1000Hz
网络分析仪:
8720ES的特点是有带二端口误差修正的固态开关S参数测试装置.ES型包含一个作为标准件的55 dB步进衰减器,以提供大的输出功率范围.增强响应校准通过对源匹配进行修正来改善传输测量的精度,但没有全二端口校准的速度损失.适配器去除校准对测量非插入式器件,如两个端口上同为阴性或同为阳性连接器的器件或在端口1和2上有不同连接器类型的器件提供更高的精度.电子校准(Ecal)利用85097A ECal VNA接口配件和适当的N4690微波ECal模块,由一次接连提供快速.简单的校准,这需要85097B-100电缆.
分子束外延设备:
可以以原子级精度制备多种材料的薄膜和纳米结构。