实验型双头叠层机:

操作更加直观、易懂。反应更加迅速，性能更加稳定。

扫描探针显微镜:

测试时，于挠性微悬臂先端的探针与试料表面微小作用力的接触，控制微悬臂的受力值，对探针与试料间的距离扫描控制，以分析试料表面形状。另外可区分为接触式 (DC mode) 与非接触式 (AC mode) 二种类型的 AFM。