快速温变箱-ESPEC EGNX28-15NW:

本设备可以支持温度定值、程序运转。精准控温，精准控制温度变化速率，温度持续时间。典型实验：快速温变试验、温度循环试验（TC）

高速存储自动测试系统-ADVANTEST T5830ES:

支持存储器CP或FT测试。

矢量网络分析仪-Keysight E5080B:

矢量网络分析仪是对射频及无线通信设备、终端、高性能的专用设备，可对元器件的S参数等进行快速、精确的测试。包括滤波器测试、放大器件测试、基站射频组合测试、混频器件测试、多端口器件测试、表面贴装器件测试、电缆测试、天线测试、平衡器件测试以及矢量电压表测试应用

功率器件分析仪-Keysight B1505A:

可在3000V直流偏置时执行全自动电容测量，封装器件和晶圆上IGBT/FET栅极电荷测量null

12寸手动探针台-MPI TS300:

可用于一般数字电路的研究，可以支持12寸及以下尺寸（4/6/8寸）晶圆的直流性能测试；可以支持探卡和探针；可以支持20℃~200℃。

连接晶圆与仪表，配合直流性能测试

示波器-Tektronix MSO64B 6-BW-4000:

在电路调试中，用来定性观测信号的有无，波形显示结果是否和期望相符，可以定量分析信号的特性，测量幅度、频率、上升时间、下降时间、脉冲宽度、脉冲个数、过冲等，观测电路是否有偶发故障，并分析其重复性，研究其成因。同时，还可以进行信号完整性测试，是否有噪声、过冲、振铃、非单调、抖动等特性。在射频信号分析领域，还可以进行信号频谱、调制分析。

高清示波器1-Keysight DSOS254A:

信号的时域性能测量分析

功率计-Keysight N1913A:

功率测试

矢量信号发生器-Keysight E8267D:

发射高频带调制的信号　

高频半自动探针台-Cascade Summit 12000B-M:

连接晶圆与仪表，配合高频性能测试

示波器-Tektronix MSO64B:

在电路调试中，用来定性观测信号的有无，波形显示结果是否和期望相符，可以定量分析信号的特性，测量幅度、频率、上升时间、下降时间、脉冲宽度、脉冲个数、过冲等，观测电路是否有偶发故障，并分析其重复性，研究其成因。同时，还可以进行信号完整性测试，是否有噪声、过冲、振铃、非单调、抖动等特性。在射频信号分析领域，还可以进行信号频谱、调制分析。

在电路调试中，用来定性观测信号的有无，波形显示结果是否和期望相符，可以定量分析信号的特性，测量幅度、频率、上升时间、下降时间、脉冲宽度、脉冲个数、过冲等，观测电路是否有偶发故障，并分析其重复性，研究其成因。同时，还可以进行信号完整性测试，是否有噪声、过冲、振铃、非单调、抖动等特性。在射频信号分析领域，还可以进行信号频谱、调制分析。

59GHz 高宽带示波器-Keysight DSAZ594A:

这套系统可以进行电子工程以及通讯领域数字相关高速信号的测试。

引线键合机-WEST BOND 7376D:

该设备主要应用于半导体器件和集成电路芯片与载体基片之间进行引线键合，使键合好的半导体器件和集成电路芯片达到设计的标准。

直流电源分析仪3-Keysight N6705C:

在为被测件(DUT)提供电源的同时,动态测量送至 DUT的直流电压和电流

无液氦稀释制冷机- BlueFors BF-LD400:

为芯片测试提供可控的低温条件

高性能逻辑分析仪1-Tektronix MSO58LP:

多路并行数字信号调试，例如FPGA调试和验证，信号完整性分析，微处理器/总线调试和验证，嵌入式软件集成、调试和验证。

超大规模集成电路测试机-Advantest V93000:

支持数字、模拟、射频等多种类测试

阻抗分析仪-Keysight E4990A:

器件的动态阻抗性能准确测量

半导体特性分析系统-Keithley 4200A-SCS:

对半导体器件进行IV、CV等多种电学功能测试，常用于自动测试

微光显微镜-SEMICAPS SOM1100:

微光显微镜是一套用来做故障点定位的分析设备，根据故障点的不同状态通过使用InGaAs探测器探测电路发出的微弱的光子或者以激光束扫描诱导金属电阻变化的方式，从集成电路或微电子器件内部数量众多的元器件或电路中迅速准确地定位到失效点，可侦测的缺陷包含节漏电、热电子效应、栅极氧化层漏电、闩锁效应、金属互联线短路、通孔底部高阻等，极大的缩小了失效电路的分析范围，从而为下一步缺陷的物理特性分析给出具体的失效位置，有利于半导体器件的工艺改进和缩短产品的研发周期

频谱分析仪-Keysight N9020B:

频谱分析仪能够完成信号的矢量分析。可分析的信号包含：任意数字调制信号，模拟调制信，无线通信调制信号，雷达系统的各种脉冲调制信号等。通过矢量分析可得到信号的功率，频率，带宽及调制参数；调制精度等完整的参数。单台仪表提供信号的完整分析能力。频谱分析仪是通用的多功能测量仪器。应用范围很宽，通过测试信号，可以反映各种产生信号和处理信号的部件/系统的性能。包含信号频率、功率、失真、增益和噪声等特性。主要测量信号的频域和解调域参数指标，进行快速扫描、信号检测、信号判断、参数提取、信号分析及多信号的分析。

恒温恒湿箱-ESPEC ARS-0220-AE:

具备精准控温控湿能力，同时可以精确控制湿度、温度的变化速率以及温湿度条件下的持续时间，可以支持恒定湿热试验以及交变湿热试验等。

误码率分析仪- MP1900A:

进行高速数字信号的收发测试

时钟恢复仪-Tektronix CR286A:

高速数字芯片中有一系列串行总线的设计和测试需求，国防军工领域同样需要高速误码率测试仪配合时钟恢复仪进行信号接收端分析，我们中心目前已经有高速率的误码率测试仪，能够集成软件进行PCIE GEN2、GEN3，GEN4等信号的快速高效的接收端测试以评估设计质量。

硬件仿真加速器:

（1）大规模全场景硬件仿真系统硬件。包括支持多达64个逻辑仿真计算处理器单元和存储器级联成为一个超大规模的高速逻辑仿真计算的互连和操作系统，支持全场景的仿真计算业务包括子系统，全芯片以及系统软硬件协同仿真(co-emulation)的IP设计，和支持空间和时间维度的先进调试方法学，包括全可视、无限长度波形调试等专用IP设计。 （2）超大容量全流程时序驱动系统级编译器(system-level compiler)。支持把数十亿门规模芯片设计的RTL（Register Transfer Level）代码自动快速实现在上述逻辑仿真计算软硬件系统上的编译器，包括RTL综合优化技术，系统电路划分/系统级null

音频分析仪-AP APx555:

音频及其它低频信号的发生与分析

实时频谱分析仪-Tektronix RSA5126B:

实时信号观测和捕获。面对越来越复杂的电磁环境，各种信号在在频域上相互重叠，并且信号出现和持续时间呈现随机性。例如捷变频信号，扩频信号，偶发信号等。传统非实时频谱仪很难对该复杂电磁环境进行完整性监测，会漏掉很多真实存在的信号。通过采用 DPX？ 频谱，实时频谱仪可以完整捕获各类偶发信号。 复杂电磁环境定量描述。实时频谱分析仪的实时频谱观测功能(DPX spectrum)，以及实时频谱概率密度统计功能(Density)可以实现频谱的实时观测和实时统计，从而完成频谱占用度和频谱重合度的测量。 该仪器可通过一次捕获，同时分析包括频域、时域以及调制域在内的多域分析。而且通过时间参数，将各个域联系起来分析

高清示波器2-Keysight DSOS254A:

信号的时域性能测量分析

高性能逻辑分析系统-Tektronix TLA7012:

这套系统可以进行高速数字信号的组合逻辑测试。

110GHz信号发生和分析系统-Keysight E8257D&9041B:

毫米波射频信号的发生与分析

误码率测试仪-Tektronix BSX320:

这套系统可以进行高速数字信号的收发测试

半导体参数分析仪-Keysight B1500A 8*SMU:

对半导体器件进行IV、CV等多种电学功能测试　

任意波形发生器-Keysight 81160A:

多种波形信号的发生，配合接受仪表进行器件分析

开关矩阵-Keysight B2201A:

多路射频信号的程控切换，用于测量复杂芯片系统

信号与频谱分析仪-ROHDE-SCHWARZ FSW26:

对射频信号进行频谱分析

电流分析仪-Keysight CX3322A:

测量不同激励下信号的电流波形　

显微探针台-Cascade EPS150FA:

连接晶圆与测试设备，开展电学测试

射频与微波信号发生器-ROHDE-SCHWARZ SMA100B:

发射射频微波信号，配合接收仪表进行芯片性能测试

数字集成电路测试机-ST2516:

直流参数、交流参数及功能测试。集成开发环境提供丰富的开发和调试工具，方便进行测试程序开发。针对批量测试，提供数据记录和分析工具。

直流参数、交流参数及功能测试。集成开发环境提供丰富的开发和调试工具，方便进行测试程序开发。针对批量测试，提供数据记录和分析工具。

任意波形发生器-Tektronix AWG70001A:

发生任意波形，支持数字芯片测试

任意波形发生器-Keysight M8195A:

M8195A 能够输出25 GHz载波频率直接生成任意调制方案 (例如 nPSK、nQAM、APSK、OFDM 等) 的宽带无线信号，或者支持以载波频率直接生成波形。可用作人工智能、量子计算、超宽带通信、软件无线电平台接收机测试的标准基带信号源，与微波矢量信号源配合可把带宽高达10GHz的复杂信号调制到更高的载波上，模拟实际的电磁环境，测试接收机平台的性能。

120GHZ毫米波在片网络分析仪测试系统-Keysight N5291A:

这套系统可以进行射频芯片参数的测试

相位噪声分析仪-ROHDE-SCHWARZ FSWP50:

利用相位噪声分析仪的互相关分析功能测试被测器件的相位噪声。主要用来测量被测件的相位噪声测量、VCO测量和瞬态信号分析指标，应用于雷达以及频率合成器、恒温晶体振荡器 (OCXO)、介质共振腔振荡器 (DRO)和VCO的开发与制造。

无液氦综合物性测量系统-Quantum DynaCool:

提供1.9K～400K温度环境和0～14特斯拉的磁场环境的同时，用先进的数据采集、分析和处理手段进行全自动的磁学、电学、电磁关联及光学的相关测量。

高清示波器-Keysight MSOS804A:

信号的时域性能测量分析

器件电流波形分析仪-Keysight CX3324A:

器件电流波形分析仪可以清晰而精确地显示电流波形，可以精确地分析功耗。可以测量半导体器件（包括休眠和激活两种状态）的电流曲线图，可以测量低电平的瞬态电流，其宽带宽和低噪声性能可以显示出器件的真实脉冲响应，还可以测量 PDN（供电网络或配电网络）的电流曲线图，包括大的冲击电流和小的休眠电流。

多通道任意波形发生器-Tektronix AWG5208:

高速数字芯片中有一系列串行总线的设计和测试需求，国防军工领域同样需要多通道任意波形发生器进行信号接收端分析，因此我们目前需要的任意波形发生器能够集成软件进行各种高速信号的快速高效的接收端测试以评估设计质量。

低温磁电耦合系统-Lake Shore CRX-VF:

为芯片测试提供可控的低温及磁场条件。

低泄漏开关矩阵-Keysight B2201A:

多路射频信号的程控切换，用于测量复杂芯片系统

ESD闩锁测试系统-Hanwa HED-S5000R&HED-C5000R:

这套系统可以模拟人体模式（HBM）、机器模式（MM）以及器件充电模式（CDM）对样品进行静电敏感度的测试。同时具备Latch up的测试功能。

存储器老化测试系统-IT&T B3000ES:

这套系统可以在高温环境下进行pattern测试，测试集成电路的可靠性。

高低温热流罩-MPI TA-5000A-1-1:

输出高速气流，为芯片电学测试，提供高低温环境

IC电磁干扰扫描仪-Langer EMV ICS 105:

扫描芯片工作时近场磁场变化

网络分析仪-Keysight E5071C:

微波频段器件射频性能测量

小型超低温试验箱-ESPEC GMC-71:

此设备控温精度高，可以精准控制升降温速率以及温度的持续时间，典型实验：高温存储试验、低温存储试验

直流电源分析仪2-Keysight N6705C:

在为被测件(DUT)提供电源的同时,动态测量送至 DUT的直流电压和电流

逻辑分析仪1-Tektronix TLA6404:

分析数字系统逻辑关系

高清示波器-Tektronix DPO71304SX:

在电路调试中，用来定性观测信号的有无，波形显示结果是否和期望相符，可以定量分析信号的特性，测量幅度、频率、上升时间、下降时间、脉冲宽度、脉冲个数、过冲等，观测电路是否有偶发故障，并分析其重复性，研究其成因。同时，还可以进行信号完整性测试，是否有噪声、过冲、振铃、非单调、抖动等特性。在射频信号分析领域，还可以进行信号频谱、调制分析。

硬件加速器系统-Mentor Veloce Strato TiL:

数字芯片设计效果的仿真检验

混合信号示波器-Tektronix MSO58:

数字芯片中有一系列并行信号的设计和测试需求，国防军工领域同样需要多通道示波器进行多通道并行信号采集分析，因此我们目前需要的八通道混合信号示波器能够集成软件进行各种多路并行信号的快速高效的采集测试以评估设计质量。

冷热冲击试验箱-ESPEC TSD-101-W:

此设备有高、低温两个chamer，试验过程中电动控制样品移动，转移时间＜10S，设备控温精准，可以支持空气介质的冷热冲击试验（规定转换时间的快速温度变化试验）

手动探针台-Semishare SH-12:

连接晶圆与测试设备，开展电学测试

噪声系数分析仪-Keysight N8976B:

主要功能对射频及无线通信设备、终端、高性能的收发电路中的各类有源器件、电路或系统进行噪声系数的快速、精确的测试。常见被测件包括低噪声放大器测试、功率放大器测试、基站射频组合测试、混频器件测试、平衡器件测试等等

高速存储器测试系统-ADVANTEST T5833ES TU1:

这套系统可以进行高速存储器CP或FT测试。

高低温全自动探针台-Opus 3 SLT:

配备OCR影像识别及自动对针系统。对针镜头为对准探针的上看方式，完全自动，量产不需要每次人工对准 配备GPIB通讯模组。 同时支持8吋及12吋晶圆自动探针测试。 图形（Mapping）格式适用于TSK、TEL、OPUS等厂家的驱动。 GPIB支持TSK、TEL、OPUS等厂家的驱动。 图形（Mapping）实时上传到服务器指定路径。 记录（Log）实时上传至指定路径。 支持CLEAN PAD（100 mm*200 mm）和CLEAN WAFER(8 &12INCH)两种清针模式。 通过TeamViewer、VNC软件远程控制。

器件电流波形分析仪-Keysight CX3322A:

测量不同激励下信号的电流波形　

逻辑分析仪2-Tektronix TLA6404:

分析数字系统逻辑关系

模拟射频信号发生器-Keysight E8663D:

发射射频微波信号，配合接收仪表进行芯片性能测试

半导体参数分析系统-EN-6500A:

半导体参数分析系统是功率器件测试的配套设备，EN-6500A可实现2000V、100A以内的Si基功率器件开通、关断、反向恢复等特性测试，系统可自动保存测试数据及波形，系统软件基于Labview编写，便于操作人员操作，同时具备联锁防护等多项安全测试防护配置，可以最大限度的保护仪器和设备操作人员。

大功率探针台-MPI TS2000HP:

大功率探针台是大功率器件测试的配套设备，TS2000-HP使用时与功率器件分析仪连接，可以在变温环境（-60℃至300℃）下实现10000V、100A的半自动晶圆级测试

直流电源分析仪-Keysight X8712A:

在为被测件(DUT)提供电源的同时,动态测量送至 DUT的直流电压和电流

信号源分析仪-Keysight E5052B:

噪声测量功能 1) 使用超低本底噪声和交叉关联方法来测量相位噪声 2) 无需改变 RF 连接即可测量 AM 噪声和相位噪声 3) 从 1 Hz 到 100 MHz 的基带噪声测量 4) 实时模式中扫宽高达 15MHz 的频谱监测 分析功能 1) 可随时对频率、相位和功率同时进行瞬时测量 2) 利用视频触发功能捕获不可预知的频率变化 3) 使用出色的低噪声直流电源进行全面的 VCO 表征（频率/功率/直流电源电流随 Vc 和 Vs 变化的关系） 4) 具有 fs 分辨率的时钟抖动测量

采样示波器-Tektronix DSA8300:

数字芯片和外围电路中有一系列高速串行信号的设计和测试需求，各种数字电路系统中需要时域反射计方式对阻抗、时延、串扰、S参数等进行测量，因此我们目前需要的采样示波器（TDR测试仪）能够集成软件进行各种高速信号的快速高效的采集测试以评估设计质量。

高宽带任意波形放大器-Tektronix AWG70001B:

高速数字芯片中有一系列串行总线的设计和测试需求，国防军工领域同样需要高速任意波形发生器进行信号接收端分析，因此我们目前需要的任意波形发生器能够集成软件进行各种高速信号的快速高效的接收端测试以评估设计质量。

脉冲函数任意噪声发生器-Keysight 81160A:

多种波形信号的发生，配合接受仪表进行器件分析

中端逻辑分析仪-Keysight 16864A:

逻辑分析系统可提供上百个通道的时序观察和信号捕捉。尤其是在对FPGA、CPU、DSP等有大量管脚的复杂器件进行测试时，逻辑分析系统可采用映射的方法帮助工程师观察、调试器件内部结构。这是其独有的功能。随着ASIC, FPGA等大型器件的不断发展，工程师也需要更多通道，更多功能的逻辑分析系统来完成测试。

信号分析仪-ROHDE-SCHWARZ FSVA3030:

对10Hz至30GHz频率范围内的射频信号进行频谱测量、矢量信号解调、噪声系数分析和相位噪声分析

高性能逻辑分析仪2-Tektronix MSO58LP:

多路并行数字信号调试，例如FPGA调试和验证，信号完整性分析，微处理器/总线调试和验证，嵌入式软件集成、调试和验证。

信号分析仪-Keysight N9010B:

对信号进行频谱分析

PXIe精密源测量单元-Keysight M9615A:

多管脚复杂芯片的精密IV测试，可用于芯片的实验室测试或产线测试

主要功能：多管脚复杂芯片的精密IV测试，可用于芯片的实验室测试或产线测试

直流电源分析仪1-Keysight N6705C:

在为被测件(DUT)提供电源的同时,动态测量送至 DUT的直流电压和电流

半导体器件分析仪-Keysight B1500A&1530:

对半导体器件进行IV、CV等多种电学功能测试　

高带宽实时示波器-Keysight UXR0594A:

这套系统可以进行电子工程以及通讯领域数字相关高速信号的测试。

频谱分析仪-Keysight N9021B:

频谱分析仪能够完成信号的矢量分析。可分析的信号包含：任意数字调制信号，模拟调制信，无线通信调制信号，雷达系统的各种脉冲调制信号等。通过矢量分析可得到信号的功率，频率，带宽及调制参数；调制精度等完整的参数。单台仪表提供信号的完整分析能力。频谱分析仪是通用的多功能测量仪器。应用范围很宽，通过测试信号，可以反映各种产生信号和处理信号的部件/系统的性能。包含信号频率、功率、失真、增益和噪声等特性。主要测量信号的频域和解调域参数指标，进行快速扫描、信号检测、信号判断、参数提取、信号分析及多信号的分析null

8位半万用表-Keysight 3458A:

0.1ppm的基本直流精度,12MHz带宽,16-24位分辨率

直流半自动探针台-Cascade Summit 12000B-M:

连接晶圆与仪表，配合直流性能测试

矢量信号发生器-Keysight M9384B:

在高频芯片以及射频的收发信的测试过程中，需要信号源产生标准的调制信号，模拟如卫星星间、星地的测控、数传分系统、或民用收发系统中实际使用的各种调制信号，用来进行整机，分系统，部件等性能的测试，具体包括接收机灵敏度，以及整机，分系统和部件对信号的损伤问题