超高温热机械分析仪(TMA):

通过测及体膨胀系数、线膨胀系数、烧结收缩率、热机械性能等多种热物性，测量材料膨胀、拉伸、压缩、弯曲及扭转等形变，分析其在高温、真空、惰性、氧化、还原等气氛环境下的热稳定性

真密度分析仪:

AccuPyc II真密度分析仪可快速高精度的测试及计算粉末、颗粒及浆状材料的体积和密度，广泛应用于粉末冶金、耐火材料、土壤、涂料及医药等多个领域。

太赫兹时域光谱仪-1:

太赫兹光谱透射测试

微波暗室:

提供一个模拟电磁波自由空间传播特性的空间，隔阻外来电磁波对试验的干扰，同时减少室内电磁反射场。为材料测试提供所需的电磁环境，提高被测的精准度和效率。

太赫兹时域光谱及成像系统-2:

太赫兹透射、正反射测量；

宽频介电阻抗谱仪:

|Z|、θz、|Y|、θY、R、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、Rp、Rs、D、Q、TSDC 等

Astrella飞秒激光器:

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Zeta电位分析仪:

通过测定纳米颗粒的尺寸及纳米颗粒表面的Zeta电位，得到纳米材料在溶液体系中的水化直径和带电量。

铁电测试系统:

该系统可广泛地应用于各种铁电/压电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。可测电滞回线、漏电流、电流-偏压、电容-偏压、极化强度，老化特性与疲劳特性等参数。

多样品温谱频谱测试系统:

|Z|、θz、|Y|、θY、R、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、Rp、Rs、D、Q、等

BCDR谐振腔:

与110GHz矢量网络分析仪配合使用，用于在毫米波频段（到110GHz）下多频连续精确测试低损耗介质材料的介电常数和损耗。

功率器件图示分析仪:

可以测量：C-D、C-G、C-Q、L-D、L-G、L-Q、R-X、G-B、Z-θ等

热常数分析仪:

基于瞬态平面热源法原理，用于测试材料的导热系数、热扩散系数和比热容。多个测试模块满足多种类型材料测试，如块体、粉末、液体、膏状物、泡沫、薄膜、板材、纤维棉、多孔材料、各向异性、复合材料等。测试时不需要密度、比热参数，无须特别的样品制备。

高温综合热分析（DSC-TG、TMA）:

广泛地应用于金属、矿物、陶瓷、有机高聚物、无机、生化、药学等材料的热性能分析

矢量网络分析仪:

反射系数、传输系数等，并用测量软件根据这些参数计算得到相应的多项参数，例如介电常数εr’, εr”、磁导率μr’、μr”、损耗tanδ，θ等

旋转流变仪:

测量样品的黏度、储能模量、损耗模量、Tanδ等流变学参数

Zeta电位仪:

该仪器主要用于测量陶瓷浆料在制备(混料、转移等)和应用(陶瓷成型、涂刷、浸渍等)过程中所表现出的胶体体系的Zeta 电位。

压电材料多场测试系统:

矢量网络分析仪:

美国是德科技有限公司生产：型号N5224B。

频率10MHz～43.5GHz，采用波导测试，可以测量介电常数，损耗，磁导率，Q值等参数。

放置新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室，承接对外开放测试服务。

闪射法导热仪:

固体材料导热系数测量

激光粒度分析仪:

Mastersizer 3000利用颗粒对激光的散射（衍射）现象测量颗粒大小及其分布，可为干湿法分散提供快速、便捷的粒径分布测试。

共聚焦拉曼与谐波成像系统:

1.    SHG（二次谐波）快速成像、SHG角分辨

2.    高分辨拉曼测试、2D和3D高分辨拉曼快速成像、偏振拉曼

3.    景深合成：实现白光三维照片在二维呈现

4.    PL快速成像

5.    扫描光电流快速成像

矢量网络分析仪:

变温高频材料测试系统可实现变温、材料电性能复介电常数实部、损耗正切等参数测试，测试过程全自动化，测试结果可以以用户自定义测试报告输出。整套测试系统可实现变温下频率范围为 1GHz~10GHz 的电学参数测试。整套系统具有高精度、操作简单、易学、应用范围广、测试频段宽等特性，可以完成对平板状材料/薄膜材料的测试。 

强场太赫兹时域光谱仪系统:

1）高强度太赫兹脉冲产生能力。系统基于飞秒光纤激光放大器与大尺寸有机晶体（如DSTMS、DAST），能够产生峰值电场强度高于1 MV/cm的强场太赫兹脉冲。这种强度的太赫兹波足以驱动材料的非线性响应，用于操控和探测材料的宏观量子态，开展强场物理研究。 2）超宽带光谱覆盖与探测。系统具备极宽的光谱探测范围。宽频带意味着能够获取材料更丰富的“指纹”吸收谱信息，对于同时鉴别多种物质、研究复杂的分子振动和晶格振动模式至关重要。

闪速差示扫描量热仪:

用于研究物质的热流与温度或时间的关系，能够测量材料的玻璃化转变过程；熔融行为, 熔点、熔融热；结晶行为，结晶度、结晶温度；相转变；多晶态等。

探针台:

与矢量网络分析仪联用，用于测试材料的射频传输特性，并可兼容其直流、低频的 I-V、C-V 曲线等性能测试。

稳态/瞬态荧光光谱仪:

稳态荧光激发发射光谱;

瞬态荧光寿命光谱；

变温荧光测试；

荧光量子产率测定；

广泛应用于光物理、光化学、材料学等交叉学科，为上下转换发光材料、荧光物质、半导体发光、太阳能电池等材料提供能带结构、缺陷等方面的分析

比表面与孔隙度分析仪-2:

可对固体颗粒样品的比表面积及孔径、孔体积进行分析，得到等温线、BET比表面积 、Langmuir比表面积、 t-Plot、 BJH吸附和脱附曲线、 Dollimore-Heal 、Horvath-Kawazoe 、DFT孔径和表面能、 Dubinin-Radushkevich等数据，被广泛应用于材料科学、生物制药、航空航天、化学催化等多个领域。

高温弹性模量测试系统:

X-波段连续波电子顺磁共振波谱仪:

大气中光电子光谱仪:

在空气下测试材料的功函数以及电离势，相比于XPS、UPS的真空条件更方便快捷，更接近于测试的真实状态；可以测试固体、液体以及薄膜样品，能进行OLED、各类太阳能电池、有机晶体管、燃料电池的催化性能等相关领域的研究。

高阻型电输运测试系统:

霍尔效应：方块电阻、霍尔系数、导电类型、霍尔迁移率、载流子浓度

磁阻：方块电阻、电阻率；

I-V特性：I-V特性曲线、R-B曲线、R-T曲线

高温动静态力学试验机:

动态热机械分析仪:

主要用于当材料在周期变化的应力作用下，测定其模量（刚性）和阻尼（能量磨耗）的特性，可测量弹性体、热塑性塑料、热固性流体、复合材料、涂料、胶黏计、陶瓷等材料的黏弹性。

视频光学接触角仪:

该仪器可通过测量固液两项接触角来表征液体对固体材料表面的润湿性能

椭圆偏振光谱仪:

光学常数：折射率(n)、消光系数(k)）、带隙宽度；界面厚度、膜层厚度、氧化层厚度测试分析；材料特性：粗糙界面分析、合金组分、结晶度、孔隙率、各向趋向等

纳米压痕仪:

电子万能材料试验机:

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高温光学热分析仪:

测量陶瓷、玻璃、复合材料的烧结点、软化点和熔化温度，实时拍摄样品图片；测量条状或薄片样品的热膨胀性能；无载荷挠度检测

精密阻抗分析仪:

角分辨光学显微镜:

110GHz矢量网络分析仪:

可用于微波毫米波介质陶瓷、陶瓷超构材料等新型功能材料及器件毫米波电磁性能参数的精确测试。

高温微波透射率测试系统:

高温微波透射率测试系统

紫外可见近红外分光光度计:

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霍尔效应测试系统:

采用Van der pauw，Hall Bar 1221 和1331模型，测试半导体材料、透明氧化物材料、太阳能电池等材料的电阻、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度等。室温下可进行Gate测量。配有高温和低温附件。

低温磁场物理性能测试系统（PPMS）:

配备了直流电阻模块（R模块）、高级电输运模块（ETO模块）、振动样品磁强计选件（VSM）、铁磁共振模块（FMR），可用于测量材料的电阻率、磁电阻、微分电阻、霍尔系数、伏安特性、临界电流、交流磁化率、有效磁矩、旋磁比等参数。

显微维氏硬度计:

1. 试验力加、卸载方式：全自动闭环传感器控制

2．配备全自动测量系统，自动砖塔，自动聚焦，定点或多点连续测试，测试结果自动读数

3．符合标准：ASTM E384, ASTM E92, ISO 6507, ISO 9385, ISO 4546

超分辨红外近场显微成像与谱仪系统:

支持AFM功能：轻敲模式和接触模式；

支持s-SNOM近场反射模式：支持近场强度和相位分辨的SNOM成像和光谱测量；

支持光谱模式：点扫描赝外差近场光谱，纳米红外反射和纳米红外吸收光谱；

支持s-SNOM透射模式：支持同步聚焦透射成像功能

高精度RF探针台:

傅里叶变换红外光谱仪:

可用于研究分子的结构和化学键，也可以作为表征和鉴别化学物种的方法。红外光谱具有高度特征性，可以采用与标准化合物的红外光谱对比的方法来做分析鉴定。

广泛应用于各种样品，包括固体、液体和气体测定。

高分辨拉曼光谱仪:

拉曼光谱是研究物质分子结构的有力工具，广泛地应用于物理、化学、生物学、材料科学、环境科学、石油化工等领域，还可开展光致发光的研究