| 仪器名称 | 仪器编号 | 样品要求 |
|---|---|---|
| 低温扫描隧道显微镜 | 08003286 | |
| 刀片机集群计算系统 | 12019994 | |
| 液氦自循环系统 | 14031877 | |
| 染料激光器 | 15014387 | 不对外 |
| 染料激光器 | 15029053 | |
| 超稳单频窄线宽激光器 | 16032644 | |
| 角分辨光电子能谱系统 | 16044977 | |
| 超低温扫描隧道显微镜 | 12022494 | |
| 光学参量放大器 | 15019235 | |
| 脉冲准分子激光器 | 15023232 | |
| 飞秒激光系统 | 16020000 | |
| 扫描隧道显微镜控制器 | 16038807 | |
| 超低温扫描隧道显微镜 | 06008317 | |
| 离子束刻蚀机 | 09004515 | |
| 噪声分析仪 | 11007560 | |
| 激光分子束外延 | 14009666 | 生长衬底不能大于10mm*10mm |
| 低温扫描隧道显微镜 | 14025745 | |
| 显微镜控制系统 | 14026557 | |
| 染料激光器 | 15029052 | |
| 超低温样品操纵台 | 16044978 | |
| ICCD快速荧光成像系统 | 02012634 | |
| Nd-YAG激光器系统 | 03003764 | |
| 脉冲激光溅射沉积系统 | 04009764 | |
| 高灵敏度磁测量系统 | 06003150 | |
| YAG激光器系统 | 12010000 | |
| 原子力显微镜 | 14009278 | |
| 低温强磁场无液氦系统 | 16001559 | 样品必须为非挥发固体，最大尺寸不超过10mm，样品电阻小于10MOhm，电极接触电阻须小于100kOhm。 |
| 低温探针台 | 16006219 | 薄膜、单晶样品，尺寸小于10x10 cm^2，厚度小于1 cm |
| 9T超导磁体系统 | 16036917 | |
| 6轴低温样品操纵台 | 17002307 | 单晶层状样品，可解离，样品尺寸大于0.5mm |
| 1064nm单模激光器 | 17002706 | |
| TOPTICA倍频激光器 | 17002828 | |
| 光电子离子成像谱仪 | 01010808 | |
| 吹扫捕集气相色谱系统 | 03012927 | |
| 显微拉曼光谱仪 | 09014624 | 无。 |
| 脉冲激光分子束外延真空腔 | 15023237 | |
| 反射高能电子衍射仪 | 16028551 | |
| 制冷机插杆 | 16030751 | |
| 无液氦制冷机 | 16036916 | |
| 扫描隧道显微镜控制器 | 16038806 | |
| 角分辨光电子能谱仪 | 16044833 | 单晶层状样品，可解离，样品尺寸大于0.5mm |
| 准分子激光器 | 00007878 | |
| 多光子图象系统 | 01003705 | |
| Hg吸收池及检测真空腔 | 14026074 | |
| 扫描隧道显微镜控制器 | 16038808 | |
| 网络分析仪 | 01012869 | |
| 网络分析仪 | 10009348 | |
| 低温扫描隧道显微镜 | 14025746 | |
| 半导体激光器 | 14030161 | |
| 超高真空样品制备腔 | 15022411 | 导电衬底，3*10mm长条形薄片衬底，真空兼容 |
| 微弱电流测量系统 | 15026433 | |
| 染料激光器 | 15029051 | |
| 半导体激光器 | 16032643 | |
| 光电子能谱仪及主腔 | 16044834 | 单晶层状样品，可解离，样品尺寸大于0.5mm。 |
| 323nm激光器 | 17002710 | |
| 可调半导体激光器 | 03003720 | |
| 扫描探针显微镜 | 11025561 | |
| 综合物性测量系统 | 12022493 | 样品必须为非挥发固体，最大尺寸不超过10mm，样品电阻小于10MOhm，电极接触电阻须小于100kOhm。 |
| 分子束外延设备 | 15007393 |
