仪器名称 仪器编号 样品要求
光谱综合分析系统 24003859

  1. 样品上下表面严格平行（倾斜度不超过1？）

  2. 样品表面平整（表面的最大凹凸差不超过0.1mm）

  3. 样品厚度不超过5mm
物理性能测试系统 08005069

比热样品：块体，底面平整，尺寸不超过2.9mm*2.9mm*1mm，质量<50mg。

热导率样品：热导率在0.1-1.5 W/(m*K)范围内的样品尺寸要求为5mm*5mm*3mm；热导率大于1.5 W/(m*K)的样品尺寸要求为11mm*1mm*1mm或者5mm*5mm*3mm。（最好自行量好尺寸，精确到0.01mm）

电阻样品：块体，一般做成长条状，例如8mm*2mm*2mm，并在样品上按四引线法做好引线。
高灵敏度磁学测量系统 14008882

(1)薄膜样品尺寸不超过4mm*4mm*1mm；块体样品尺寸不超过2mm*2mm*2mm；粉末样品不少于50mg。

(2)样品磁矩不超过1emu。

(3)薄膜样品如需做面外测试，需将样品横向卡在直径5.5mm的塑料管中，要求样品尺寸恰好合适，可提前找实验室工作人员借用此台仪器专用塑料管。
纳米压痕仪 16044820

(1)样品上下表面平行；

(2)样品表面平整，粗糙度在100nm以下；

(3)样品尺寸小于20mm*20mm，厚度小于9mm。
振动样品磁强计 20021585

(1)薄膜样品尺寸不超过5mm*5mm*2mm；块体样品尺寸不超过4mm*4mm*2mm；粉末样品不少于50mg。

(2)样品磁矩不超过80emu，磁性非常强的样品请尽量切小尺寸。

(3)磁性很弱（磁矩小于0.1 memu）的样品请在送样时提前说明。